Создание комплекта тестовых плат для проверки модулей спутниковых навигационных приёмников (ВКР) — различия между версиями
Материал из SRNS
Boldenkov (обсуждение | вклад) (Новая страница: «Научный руководитель: Болденков, Евгений Николаевич В настоящее время происходит быс…») |
Boldenkov (обсуждение | вклад) |
||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
Научный руководитель: [[Болденков, Евгений Николаевич]] | Научный руководитель: [[Болденков, Евгений Николаевич]] | ||
| − | В настоящее время происходит быстрое развитие аппаратуры | + | В настоящее время происходит быстрое развитие аппаратуры потребителей спутниковой навигации. Цикл жизни поколений навигационных модулей в области массового применения составляет 2-3 года. Таким образом, каждый год ряд производителей выпускает новые версии навигационных модулей с новыми характеристиками. Для испытаний и оценки характеристик данных модулей необходимо создать набор тестовых плат, обеспечивающих работу модулей и подключения к ним всех необходимых сигналов. |
Целью работы является разработка и создание комплекта тестовых плат, а также проведение испытаний современных навигационных модулей. | Целью работы является разработка и создание комплекта тестовых плат, а также проведение испытаний современных навигационных модулей. | ||
Версия 01:14, 25 октября 2013
Научный руководитель: Болденков, Евгений Николаевич
В настоящее время происходит быстрое развитие аппаратуры потребителей спутниковой навигации. Цикл жизни поколений навигационных модулей в области массового применения составляет 2-3 года. Таким образом, каждый год ряд производителей выпускает новые версии навигационных модулей с новыми характеристиками. Для испытаний и оценки характеристик данных модулей необходимо создать набор тестовых плат, обеспечивающих работу модулей и подключения к ним всех необходимых сигналов.
Целью работы является разработка и создание комплекта тестовых плат, а также проведение испытаний современных навигационных модулей.
Уровень сложности можно оценить как средний.
Содержание |
